プロフェッショナル・スタイラス・サーフェス・プロファイラー
プロフェッショナルスタイラス表面プロファイラーは、工業部品の正確な表面粗さおよびプロファイル解析のために設計された高精度測定機器です。プロフェッショナルスタイラスサーフェスプロファイラーは、ダイヤモンドスタイラスセンサーを用いて、卓越した解像度で微細な表面の変化を追跡し、物理的な表面テクスチャを正確なデジタルデータに変換します。プロフェッショナルスタイラス表面プロファイラーは、厳格な表面品質評価と現代の製造環境における再現可能な測定精度を求める用途に最適です。
- 測定: プローブプロファイリング技術
- プローブセンサー: 低慣性センサー(LIS3)
- プローブ圧力: LIS3センサーの使用:1mgから15mg
- サンプルビュー: 選択可能な拡大倍率、1〜4mmの視野
製品説明
プロフェッショナルスタイラス・サーフェスプロファイラーは、先進的な測定技術と安定し使いやすいプラットフォームを統合し、現代の実験室や生産環境向けに正確な表面特性評価を提供します。優れた精度、信頼性の高い再現性、効率的な運用を備え、研究および産業品質管理の両方に適しています。
高解像度の表面解析を目的に設計されており、ナノスケールの粗さ、ステップ高さ、3次元地形測定をサポートします。マイクロエレクトロニクス、半導体、ディスプレイ製造、太陽エネルギー、医療機器、先端材料研究などで広く使用されており、研究開発から最終検査まで優れたプロセス制御を実現できます。
プロフェッショナルスタイラス表面プロファイラー – ナノメートルレベルのステップハイトおよび表面粗さ測定
プロフェッショナルスタイラスサーフェスプロファイラーは、ステップ高さ、表面粗さ、3D表面地形の正確な解析を目的とした高精度の接触測定システムです。ダイヤモンドスタイラスで試料表面を優しくなぞることで、細かい表面の変化を卓越した解像度と安定性で捉えます。これにより、要求の高い産業および実験室での測定結果が高信頼性かつ再現性に高く保証されます。
仕組み
このシステムは接触型測定方式に基づいて動作します。スタイラスが表面に沿って動くと、その垂直方向の変位は表面の輪郭を反映します。この動きは測定ブリッジを通じて電気信号として捕捉され、垂直変位に比例した振幅変調出力が生成されます。その後、信号は増幅され、位相感応整流で処理され、ノイズや波乱を除去するためにフィルタリングされます。これにより、最終出力はクリーンで安定した信号となり、外部干渉や波乱のない正確なステップ高さや粗さの測定が提供されます。
主な応用例
- 半導体ウェハー計測: 半導体ウェハの精密な測定と解析を行い、高品質な製造を保証します。
- MEMSと微細構造: MEMS(微小電気機械システム)および微細構造の詳細な表面測定のための正確なプロファイリング。
- 薄膜とコーティング厚さ: 薄膜やコーティングの厚さと均一性の評価は、さまざまな製造工程において重要です。
- 太陽電池表面プロファイリング: 太陽電池の正確な表面測定、性能と製造品質の最適化。
- 精密光学および医療機器: 高精度光学機器や医療機器の測定を行い、高い品質と性能の基準を維持します。
主な特徴
- 安定したパフォーマンス: 高速トランスミッション、自動校正、正確な測定により安定した運用を保証します。
- 革新的なデスクトップデザイン: コンパクトなベンチトップセットアップで高性能、使いやすさ、コスト効率のバランスを実現しています。
- コンパクトで信頼性の高い設計: 最適化されたハードウェア構成により、高いテスト精度、安定性、効率性が保証されます。
- 優れた素材と耐久性: 耐久性、長寿命、効率的な性能を保証する高品質な素材で作られています。
装備の特徴
- 比類なきパフォーマンス: 4A未満のステップ高さの再現性があり、スキャン能力も強化されています。
- シングルアーチ設計: 突破的な安定性を提供し、周囲のノイズ干渉を最小限に抑え、低力スキャンで広い垂直範囲を可能にします。
- スマートエレクトロニクスのアップグレード: ノイズを低減し、測定精度を高め、10nm未満のステップ高さも測定可能です。
- 最適化されたハードウェア構成: データ取得時間を40%短縮し、測定効率を向上させます。
- 64ビットVision64同期ソフトウェア: データ処理を加速し、データ分析速度を10倍に向上させます。
- 直感的なユーザーインターフェース: Vision64ソフトウェアは、セットアップや分析が簡単にできる、シンプルで使いやすいインターフェースを提供します。
- 自動チップアライメントシステム: 自己調整プローブアセンブリによりプローブの変更を簡素化し、遷移時のリスクを低減します。
- 幅広いプローブモデル: さまざまなサイズや形状のプローブを提供し、ほぼあらゆる用途との互換性を確保しています。
- 単一センサー設計: 単一の平面上で広い走査範囲で低力測定を提供します。
- 高スループットテスト: 高精度な薄膜測定のための迅速かつ多試料によるテストが可能で、優れた再現性を実現します。
技術的パラメータ
| 計測技術 | プローブプロファイリング技術 |
| 測定関数 | 2次元表面プロファイル測定 |
| オプションの3D測定/ | |
| サンプルビュー | 選択可能な拡大倍率、1〜4mmの視野 |
| プローブセンサー | 低慣性センサー(LIS3) |
| プローブ圧力 | LIS3センサーの使用:1mgから15mg |
| ローフォース(任意) | N-Lite低圧センサー使用時:0.03から15mg |
| プローブオプション | プローブ曲率半径の選択範囲:50nmから25μm; |
| 高さ対直径比(HAR)チップ:10μm*2μmおよび200μm*20μm; | |
| カスタムチップはご要望に応じてご用意しています。 | |
| サンプルX/Yステージ | マニュアルX-Yトランスレート:100mm(4インチ) |
| 電動X-Yのトランスレート:150mm(6インチ) | |
| サンプルロータリーステージ | マニュアル、360°回転; |
| モーター駆動:360°回転; | |
| コンピューターシステム | 64ビットマルチコアラインプロセッサ、Windows* 7.0;オプションで23インチフラットパネルディスプレイ |
| ソフトウェア | Vision64の運用・解析ソフトウェア; |
| 応力測定ソフトウェア:片持ちたわみ; | |
| 縫合ソフトウェア:3Dスキャンイメージングソフトウェア | |
| 振動減衰装置 | ショックダンピング機能が利用可能です |
| スキャン長範囲 | 55mm(2インチ) |
| スキャンごとにデータポイント | 最大120,000のデータポイントまで |
| 最大サンプル厚さ | 50mm(2インチ) |
| 最大ウェハーサイズ | 200mm(8インチ) |
| ステップ高さの再現性 | <4A1σは1μmステップで |
| 垂直範囲 | 1mm(0.039インチ) |
| 垂直解像度 | 最大1A(垂直距離6.55μm時) |
| 入力電圧 | 100 - 240 VAC、50 - 60Hz |
| 温度範囲 | 作動範囲:20°Cから25°C(68°Fから77°F) |
| 湿度範囲 | ≤80%、凝縮しない |
| システムサイズと重量 | 455mm W x 550mm D x 370mm H |
| (179インチ、幅×22.6インチ。D x 14.5インチ。H); | |
| 34kg(75ポンド)、 | |
| 取り付け位置:550mm L x 585mm W x 445mm H(216インチ)L×23インチ。幅×175インチ。H); | |
| 217 kg(48 lbs) |
適用事例
- 薄膜試験 – 高収量の確保:
半導体製造において、ステップ計測器は成着およびエッチングの均一性、薄膜応力、ITO薄膜厚さの監視に役立ちます。高い再現性により正確な測定が可能となり、エッチングや沈着を最適化してより良い収率を実現します。 - 表面粗さ検査 – 性能確保:
自動車、航空宇宙、医療機器などの産業における精密部品の表面粗さ評価に理想的です。例えば、整形外科用インプラントのコーティングの粗さを測定し、製品の品質と接着性を確保します。 - 太陽光グリッドのライン分析 – 製造コストの削減:
太陽光パネルの導電性銀グリッドの寸法を測るのに最適です。ステップ機器により、銀の利用が導電性向上に最適化され、太陽光パネル生産のコスト削減に寄与します。 - マイクロ流体技術 – 設計と性能の検出:
MEMSやマイクロ流体技術で適格試験に使用されています。低力NLite測定機能により、感光材料の垂直段階や粗さを正確に検出でき、設計精度と性能を確保します。

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適用範囲
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